Двухосный лазерный сканирующий микрометр
Код: LDM-XY14
Одновременное отображение внешнего диаметра и овальности за одно измерение
Может использоваться для прозрачных и непрозрачных заготовок
Измерение допусков
Измерение в режиме реального времени или в автономном режиме
Подключение к компьютеру, ПЛК, блоку управления
| Код | Диапазон | Точность | Повторяемость | Количество осей |
|---|---|---|---|---|
| LDM-XY14 | 0.05~14mm | ± (0.5+10%D)μm | (0.3+5%D)μm | 2 |
Ознакомьтесь с полными техническими
характеристиками продукта