Системы измерения толщины покрытий/пленок
Код: MTF-Y430
Подходит для измерения толщины различных покрытий или многослойных композитных пленок, имеет широкий диапазон измерений.
Высокая точность, основанная на интуитивно понятной оценке измерений, применима для проверки и разрешения споров, возникающих при использовании других методов измерения толщины.
Способен анализировать качество покрытий и выявлять причины дефектов (таких как поры, трещины, включения, отслоение и т. д.).
Высокая точность и хорошая воспроизводимость, обычно используется для строгого контроля толщины.
| Код | Разрешение | Увеличение | Пиксель |
|---|---|---|---|
| MTF-Y430 (standard type) | 3072×2048 | Optical magnification: 50X~500X (up to 1000X with optional 100X objective) | 6.3M |
| MTF-Y430H (high-definition type) | 3072×2048 | Optical magnification: 50X~500X (up to 1000X with optional 100X objective) | 6.3M |
Ознакомьтесь с полными техническими
характеристиками продукта
