Сканирующий акустический микроскоп
Код: UFD-CY Series
Подходит для автоматического сканирования включений, трещин, пористости, расслоений и других дефектов в металлических и композитных деталях.
Он поддерживает полный спектр режимов визуализации, включая A, B, C, D и X, отображая подробную информацию о продукте с высокой точностью, с функциями маркировки данных и сравнения осциллограмм, что позволяет осуществлять детальное отслеживание и точный анализ дефектов.
На основе времени распространения и степени затухания волны быстро представляется морфология и распределение дефектов внутри объекта обнаружения.
Количество и размеры лотков можно настраивать, а среди встроенных функций — автоматическая сегментация изображений, распознавание пустых лотков и пропуск лотков и т.д.
Множество режимов измерения, точная оценка, поддержка до 9 методов ручного измерения, включая точечное, параллельное измерение ширины, многосегментное измерение и другие, для удовлетворения разнообразных потребностей в измерениях.
| Код | Частота | Частота выборки | Диапазон регулировки усиления | Этап регулировки усиления | Максимальная частота повторения | Рабочее место |
|---|---|---|---|---|---|---|
| UFD-CY310 | 1~150MHz | 2GS/s | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | single station |
| UFD-CY320 | 5~300MHz | 2GS/s | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | single station |
| UFD-CY330 | 5~500MHz | 2GS/s | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | single station |
| UFD-CY340 | 1~150MHz | 1GS/s/CH | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | dual station |
| UFD-CY350 | 5~300MHz | 1GS/s/CH | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | dual station |
| UFD-CY360 | 5~500MHz | 1GS/s/CH | -32~80dB | 0.01dB | 65kHz | dual station |
Ознакомьтесь с полными техническими
характеристиками продукта
