| Код | диапазон углов 2θ | Скорость сканирования | ошибка индикации угла 2θ |
|---|---|---|---|
| XRD-DP220 | -3°~152° | 0.01-120°/min | ≤±0.02° |


Применяется в фармацевтике, производстве аккумуляторов, полупроводников, геологических и минеральных ресурсов, строительных материалов и пищевой промышленности.
Определение кристаллической структуры и кристаллографических параметров с помощью анализа рентгенодифракционных спектров (XRD).
Оснащен сенсорной панелью, отображающей текущее состояние прибора в режиме реального времени, что обеспечивает интуитивно понятный интерфейс и упрощает процесс управления.
Встроенная система охлаждения с циркуляцией воды, нет необходимости в дополнительном чиллере.
Встроенная база данных, содержащая 400 000 записей, для эффективной идентификации и анализа фаз.
Интеллектуально считывает данные рентгеновской дифракции (XRD) в более чем 30 форматах.
| Код | диапазон углов 2θ | Скорость сканирования | ошибка индикации угла 2θ |
|---|---|---|---|
| XRD-DP220 | -3°~152° | 0.01-120°/min | ≤±0.02° |
Ознакомьтесь с полными техническими
характеристиками продукта



