| Код | Метод обнаружения | Приложение | Аналитический материал | Тип | Неразрушающий |
|---|---|---|---|---|---|
| OES-R420 | OES | component analysis | metal | benchtop | no |
| OES-R530 | OES | component analysis | metal | benchtop | no |


Широко применяется в металлургии, литейном производстве, машиностроении, металлургии, производстве цветных и черных металлов и т. д.
Может использоваться для анализа образцов металлов и их сплавов, таких как Fe, Al, Cu, Ni, Co, Mg, Ti, Zn, Pb, Sn, Mn и др.
Она может автоматически калибровать дрейф пикселей для обеспечения стабильности оптической системы.
Фракционное экспонирование используется для снижения предела обнаружения микроэлементов.
Оснащен коаксиальной платформой возбуждения с вращающимся воздушным потоком, системой самоочистки под давлением, позволяющей проводить тысячи циклов возбуждения без очистки.
Поддерживает интеллектуальное распознавание сортов, автоматический расчет углеродного эквивалента и т.д.
| Код | Метод обнаружения | Приложение | Аналитический материал | Тип | Неразрушающий |
|---|---|---|---|---|---|
| OES-R420 | OES | component analysis | metal | benchtop | no |
| OES-R530 | OES | component analysis | metal | benchtop | no |
Ознакомьтесь с полными техническими
характеристиками продукта



