Прибор для измерения толщины гальванического покрытия методом рентгенофлуоресцентного анализа (XRF)

В соответствии со стандартами DIN ISO 3497, DIN 50987 и ASTM B568

Области применения: анализ толщины гальванического покрытия, контроль электронных компонентов, таких как разъемы, крепежные изделия, автомобильные детали, аппаратная промышленность (бытовая техника и аксессуары, например, Cr/Ni/CuZn (ABS)), новая энергетика (сварочная проволока для фотоэлектрических элементов и т. д.), анализ толщины аксессуаров, Ni/Cu/Ni/NdFeB на рубидиево-железо-борных магнитах, обнаружение катионов металлов в гальваническом растворе и т. д.

Он способен обнаруживать 90 элементов гальванического покрытия.

Оснащенный микрофокусным рентгеновским генератором и усовершенствованной системой фокусировки с преобразованием светового пути, минимальный измеряемый участок составляет до 0,03 мм².